彩色波形A-掃描超聲波測厚儀UM-5
　　
　　如果你遇到了普通測厚儀不能解決的問題，請選擇我們的UM-5，它能zui大限度的解決各種測厚難題，為您提供高性價比的解決方案。
　　
　　一、彩色波形A-掃描超聲波測厚儀UM-5技術參數:
　
　　工作原理：使用雙晶探頭的超聲波脈沖/回波法。測量范圍：0.5至508毫米（0.02至20英寸）；取決于所用探頭、材料、表面狀況和溫度。單位和顯示分辨率:毫米-0.01，0.1；英寸-0.001，0.01。顯示模式：厚度值模式；A掃描或波形模式；zui小/zui大值捕獲模式；差值/減薄率模式。
　　
　　V路徑修正：自動V聲程修正，補償雙晶探頭的非線性度。
　　
　　示值誤差：±0.05mm（25mm以下）；
　　
　　±0.2%H（100mm以下）；
　　
　　±0.5%H（100mm以上）。注：H為被測物厚度
　　
　　重復性：±0.05mm。
　　
　　顯示屏：320×240點陣，2.4寸真彩屏。
　　
　　測量速率：每秒4次測量。
　　
　　材料聲速范圍：500～9999m/s，0.0197～0.3937in/us。
　　
　　質保期：2年。
　　
　　工作語言：中文。
　　
　　電源：兩節1.5VAA電池。
　　
　　操作時間：兩節5號電池，使用時間大于36小時。
　　
　　自動關機：5分鐘無操作后自動關機。
　　
　　工作溫度：-10℃～+50℃，有特殊要求可達-20℃。
　　
　　尺寸：153mm×76mm×37mm（H×W×D）。
　　
　　重量：含電池280g。
　　
　　二、彩色波形A-掃描UM-5標準配置：
　　
　　測厚儀UM-5,標配探頭,儀器箱,兩節1.5V堿性電池,耦合劑,操作手冊。
　　
　　三、彩色波形A-掃描UM-5可選附件：
　　
　　多種可供選擇的探頭；階梯試塊；耦合劑及高溫耦合劑。
　　
　　四、彩色波形A-掃描UM-5原理講解:
　　
　　采用脈沖—回波法原理的普通需要滿足以下兩個條件才能成功測量：
　　
　　1.*底面回波要高于閘門（閘門電平高度是固定的不可調節）。
　　
　　2.*底面回波前沒有其它雜波高于閘門（否則測出的將是產生雜波處的厚度）。
　　
　　有時許多情況無法滿足上述要求，例如近表面高度腐蝕、粗晶材料（如鑄鐵）、鋁材料、小直徑管、超薄板、超厚板、表面粗糙、材料內部的不均勻、內含缺陷、疊片結構等等，普通將無能為力。
　　
　　五、彩色波形A-掃描UM-5可輕松解決上述問題：
　　
　　1.可以通過調整增益和閘門高度，使*底面回波高于閘門。
　　
　　2.可以通過消隱功能使*底面回波前的其它雜波無效。以前的棘手難題迎刃而解。
　　
　　實時彩色A-掃描（LiveColorA-Scan）:
　　
　　用戶在屏幕上能直接看到彩色超聲信號波型（或A掃描）,這對于需要驗證厚度讀數是否正確的場合是至關重要的。許多情況會引發錯誤的厚度讀數甚至無讀數，根據波形能輕松找到問題所在，然后根據波形僅需對增益（GAIN）、消隱（BLANKING）、閘門（GATE）這三個參數做適當調整，就可得到正確的厚度讀數。
　　
　　波形的用處：根據波形驗證厚度讀數，根據波形找到問題所在，根據波形尋求解決之道，根據波形調整參數解決問題。
　　
　　增益調整（GAIN）：
　　
　　調整儀器對回波信號的放大倍數，允許以ldB為單位手動增加或減少。這個功能對聲衰減材料（比如金屬鑄件）的測量是非常有效的。
　　
　　消隱功能（BLANKING）：
　　
　　使紅色消隱條范圍內的波形無效，可以略去影響測量的有害雜波，比如因材料表面粗糙或內部不均勻引起的噪聲。
　　
　　閘門高度可調（GATE）：
　　
　　只有回波高于閘門時，儀器才認為接收到了回波，才會有測量值。可見閘門高度可調的重要性，尤其是在應對低回波信號的應用中更是如此（比如超薄板、超厚板的測量）。
　　
　　紅色箭頭：
　　
　　A-掃描模式有一個紅色箭頭指示測量點，厚度讀數就是該點的橫坐標。它可幫助判斷厚度讀數是否正確，正確測量時，紅箭頭應該指向*底面回波前沿。
　　
　　范圍（RANGE）：
　　
　　調整顯示在屏幕上的波形范圍，視覺上波形被壓縮或展開。如果沒有正確的設置顯示范圍，回波波形可能出了顯示區域而看不到，但仍能正確地顯示測量值。
　　
　　平移（DELAY）：
　　
　　調整顯示在屏幕上的波形的起始位置，視覺上波形被水平移動。如果沒有正確的設置平移，回波波形可能出了顯示區域而看不到，但仍能正確地顯示測量值。范圍和平移功能可將波形的任何一部分放大顯示在屏幕上。
　　
　　整流方式:
　　
　　可選擇射頻、正半波、負半波、全波四種整流方式。射頻：描繪了完整的回波波形；正半波：指去掉回波的負半波只顯示正半波；負半波：指去掉回波的正半波而將負半波翻轉顯示為正；
　　
　　全波：指回波的正半波和翻轉為正的負半波均顯示。
　　
　　報警模式:
　　
　　可設置報警上限和報警下限。報警時波形和厚度值動態改變顏色。
　　
　　縮減率測量:
　　
　　儀器具有差值和縮減率模式。差值模式顯示實測厚度與預設厚度之間的差值變化。縮減率是計算并顯示材料變薄以后厚度縮減的百分比。典型應用是對因彎曲而變薄的金屬材料進行測量。
　　
　　zui小/zui大值模式:
　　
　　該模式在屏幕上同時顯示當前厚度值、zui小厚度值和zui大厚度值。可沿著工件表面拖動探頭，儀器自動找出zui薄值和zui厚值。
　　
　　多種探頭可選:
　　
　　儀器內置多種探頭的V聲程校正程序，分標準探頭、小徑管探頭、微型探頭、粗晶探頭、高溫探頭，頻率范圍從2至10MHz，晶片尺寸從4至12mm。
　　
　　一般來說，探頭頻率越高而直徑越小，越適合對較薄或彎曲工件的測量。